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第一章 光干涉和综合孔径技术发展1

1.1 光干涉技术的早期历史1

1.2 近代实用光干涉与综合孔径技术发展2

1.3 空间光干涉与综合孔径技术发展应用5

1.4 我国光干涉与综合孔径技术发展9

参考文献11

第二章 基本原理13

2.1 传统望远镜的成像原理13

2.2 光干涉原理17

2.2.1 光波场的相干性和复相干度17

2.2.2 范西特—泽尼克（Van Cittert-Zemike）定理26

2.2.3 成像作为一个干涉量度过程29

2.2.4 非均匀发光面源的空间相干性31

2.3 光学综合孔径成像原理34

2.3.1 光干涉数据重构成像34

2.3.2 光学稀疏孔径直接成像36

参考文献38

第三章 光学干涉数据重构成像方法40

3.1 系统结构和观测目标的关系41

3.2 系统的数据采集和处理44

3.3 系统的视场分析46

3.4 系统阵列排列和空间频率覆盖53

3.4.1 综合孔径望远镜子孔径排列原则53

3.4.2 直线阵的排列54

3.4.3 直线阵取样过程及效果的模拟57

3.4.4 圆形数组的初步结果和设想58

3.5 重构成像实例61

参考文献64

第四章 光学稀疏孔径直接成像方法66

4.1 稀疏孔径成像的直观解释66

4.1.1 从物平面出发的直观解释66

4.1.2 从像平面出发的直观解释67

4.2 系统性能分析68

4.2.1 光学传递函数68

4.2.2 能量收集效率69

4.2.3 成像信噪比分析70

4.3 系统布阵探讨76

4.4 共相叠加技术分析78

4.5 图像复原及评价84

4.5.1 光学稀疏孔径成像系统的图像复原算法84

4.5.2 光学稀疏孔径成像系统的图像质量评价87

4.5.3 光学稀疏孔径系统成像的计算机模拟及图像复原91

4.6 稀疏孔径成像与单个孔径成像的比较93

4.7 光学稀疏孔径直接成像实验100

4.7.1 法国Solarnet实验系统100

4.7.2 稀疏孔径阵列结构及成像实验105

参考文献115

第五章 稀疏孔径直接成像系统设计范例118

5.1 等效孔径150mm直接成像实验室演示系统118

5.1.1 系统的主要构成及功能118

5.1.2 系统的技术要求123

5.1.3 系统的容差分析及误差分配124

5.2 等效孔径25m直接成像系统设计124

5.2.1 基本结构参数的确定125

5.2.2 光学系统设计127

5.2.3 系统误差分析132

5.2.4 光学稀疏孔径系统成像的数值仿真134

参考文献141

第六章 光学综合孔径成像方法比较分析143

6.1 两种成像方法系统结构比较143

6.2 两种成像方法成像原理比较144

6.2.1 两种系统的共同的等效光路图144

6.2.2 两种系统的点扩散函数比较145

6.2.3 两种系统的光学传递函数比较146

6.3 两种成像方法图像处理过程比较146

6.3.1 综合孔径光干涉重构成像的图像处理过程146

6.3.2 光学稀疏孔径直接成像的图像处理过程147

6.4 两种成像方法技术难题比较148

6.4.1 相同部分148

6.4.2 不同部分148

6.4.3 子孔径大小对两种系统的影响149

6.5 两种成像方法优缺点及适用范围比较149

6.5.1 综合孔径光干涉重构成像的优缺点149

6.5.2 光学稀疏孔径直接成像方法的优缺点150

6.5.3 两种系统的特点比较150

参考文献151

第七章 光学综合孔径成像关键技术152

7.1 综合孔径光干涉重构成像关键技术分析152

7.1.1 综合孔径光干涉重构成像关键技术分类152

7.1.2 高精度激光测量与检测系统分析152

7.2 稀疏孔径直接成像关键技术分析153

7.2.1 稀疏孔径直接成像关键技术分类153

7.2.2 面阵CCD探测器的分辨率要求154

7.3 光纤与集成光学——光干涉应用新技术159

7.3.1 空间光干涉成像技术的发展趋势159

7.3.2 原理159

7.3.3 实验研究161

参考文献162

后记163