图书介绍

集成电路系统设计、验证与测试【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

（美）LouisSchefferLucianoLavagnoGtantMartin等著著
出版社：北京：科学出版社
ISBN：9787030214904
出版时间：2008
标注页数：475页
文件大小：151MB
文件页数：492页
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图书目录

集成电路电子设计自动化简介2

系统级设计6

微体系结构设计7

逻辑验证7

测试8

RTL到GDSII，综合、布局和布线8

模拟和混合信号设计9

物理验证10

工艺计算机辅助设计11

参考文献11

绪论12

验证14

实现16

可制造性设计22

参考文献23

绪论26

视频应用的特点26

其他应用领域27

平台级的特点27

基于模型的设计中计算和工具的模型30

仿真37

软、硬件的协同综合38

总结39

参考文献40

绪论43

特定领域语言和方法的调研44

异构平台及方法学52

总结53

参考文献54

IP复用和基于模块设计的经济性问题58

标准总线接口59

基于声明验证的使用59

IP配置器和生成器的使用61

设计集成和验证的挑战62

SPIRIT XML数据手册提案63

总结64

参考文献65

绪论66

对于系统设计流程中性能评估的介绍66

MPSoC性能评估73

总结74

参考文献76

绪论79

动态电源管理80

电池监控动态电源管理86

软件级动态电源管理90

总结93

参考文献93

绪论96

使用ADL进行处理器建模97

ADL驱动方法105

总结111

参考文献112

摘要115

绪论115

同步模型和异步模型125

同步模型125

异步模型128

嵌入式软件模型的研究143

总结149

参考文献149

绪论153

作为基准点测试平台的ISS154

理想与实际处理器基准的比较155

标准基准类型156

以往的性能级别：MIPS、MOPS和MFLOPS156

经典的处理器基准（早期）157

现代处理器性能基准164

可配置性处理器和处理器内核基准的未来173

总结175

参考文献175

绪论177

技术发展水平的背景及调研178

并行HLS186

SPARK PHLS框架189

总结190

参考文献191

绪论196

系统建模和设计方法学197

系统级建模对象的反向标注200

统计特征的自动提取203

开放式系统级建模问题209

参考文献209

摘要212

绪论212

背景213

结构模型214

微体系结构功耗建模和估计215

微体系结构功耗优化22

总结236

参考文献23

绪论242

平面布局244

布线规划249

针对折中的形式系统256

参考文献261

绪论264

历史265

设计语言266

验证语言278

总结288

参考文献289

绪论291

面向事件与面向进程的仿真292

逻辑仿真方法和算法293

语言对逻辑仿真的影响299

逻辑仿真方法301

HVL对仿真的影响304

总结304

参考文献305

绪论306